选择红外热像仪的工作波段时有诸多考虑因素。要考虑的第一个参数是您希望监测的对象的估计温度范围。普朗克发射曲线表明，温度超过约 150℃ 的物体将在中波区间发射，而接近室温的物体将在长波区间发射。还必须考虑到预想应用的光谱要求。许多材料可通过其红外光谱特征同时在中波和长波区间通过窄带成像进行检测。选择红外成像仪的光谱范围时，预先了解目标材料的光谱特征至关重要。

通常使用高精度黑体参考源对红外热像仪进行校准，以实施非均匀性校正 (NUC) 来提高图像质量，同时进行辐射校准，以将单次曝光中观测到的探测器响应（数字计数）与黑体温度相关联。增加曝光次数需要另外构建校准数据集。

Telops 专有的永久辐射校准的工作方式为将探测器产生的电子通量（通过将数字计数除以曝光时间来确定）视为黑体温度的函数。探测器产生的通量与曝光时间无关，因此，此校准策略支持一系列广泛的运行参数，且无需重新校准。Telops 的所有高速宽带和多光谱热像仪都完全实现了此永久校准。我们建议每两年对热像仪进行一次出厂校准。

红外热像仪通过解析场景中物体表面发出的红外辐射来测量名为辐射温度的一个量。每个物体都会建模为一个具有单一、光谱平坦发射率曲线的黑体，且曲线仅根据其温度发射发出辐射。实际物体不会存在单一的发射率值，事实上，大多数实际材料的发射率曲线从光谱上来说变化很大。此外，场景内物体发出的进入热像仪的热辐射因中间大气的传输特性而有所改动。要将红外热像仪测量的辐射温度转换为物体的真实热力学温度，需要对真实材料发射率和大气传输特性作出补偿。