Caméras SWIR

La nouvelle gamme de caméras FAST-SWIR de Telops comprend les caméras opérant dans l’infrarouge proche les plus rapides sur le marché. Parfaites pour l’analyse d’événements dynamiques, les caméras infrarouge FAST-SWIR sont également extrêmement sensibles en raison de leur détecteur unique à faible bruit.

Grâce à leur fréquence d’images et leur sensibilité élevées, les caméras FAST-SWIR sont idéales pour une grande variété d’applications, tels la signature infrarouge, la détection de flashs, l’analyse d’œuvre d’art et le soudage.

Informations supplémentaires

  • Caractéristiques clés:
    Série Fast-SWIR
      Plage spectrale Résolution spatiale

    Fréquence d'acquisition maximale
    en pleine fenêtre

    Fréquence d'acquisition maximale
    en sous-fenêtre
    FAST S400 0.9 - 1.7 μm 640 × 512 px 444 Hz 49 900 Hz @ 32 x 32
    FAST S800 0.9 - 1.7 μm 640 × 512 px 865 Hz 33 000 Hz 32 x 32
    FAST S2k 0.9 - 1.7 μm 640 × 512 px 1 730 Hz 150 000 Hz @ 32 x 4
  • Colonne 1 - texte:

    Quelques avantages clés:

    • Haute résolution temporelle – jusqu’à 150 000 images par seconde en sous-fenêtre
    • La bande SWIR permet de voir à travers le brouillard, la fumée, l’atmosphère et le silicium, permettant des applications comme le repérage longue-distance et l’analyse de semi-conducteurs
    • Les caméras SWIR peuvent aussi être utilisées dans nos solutions NDT pour détecter les défauts dans les matériaux
  • Colonne 2 - image:

    Signature IR dans différentes bandes.

    Image courtoisie de l’Office of Naval Research and US Army Night Vision et de l’Electronic Sensors Directorate

    Soudage.

Quelques avantages clés:

  • Haute résolution temporelle – jusqu’à 150 000 images par seconde en sous-fenêtre
  • La bande SWIR permet de voir à travers le brouillard, la fumée, l’atmosphère et le silicium, permettant des applications comme le repérage longue-distance et l’analyse de semi-conducteurs
  • Les caméras SWIR peuvent aussi être utilisées dans nos solutions NDT pour détecter les défauts dans les matériaux

Signature IR dans différentes bandes.

Image courtoisie de l’Office of Naval Research and US Army Night Vision et de l’Electronic Sensors Directorate

Soudage.

Caractéristiques clés
Caractéristiques clés:
Série Fast-SWIR
  Plage spectrale Résolution spatiale

Fréquence d'acquisition maximale
en pleine fenêtre

Fréquence d'acquisition maximale
en sous-fenêtre
FAST S400 0.9 - 1.7 μm 640 × 512 px 444 Hz 49 900 Hz @ 32 x 32
FAST S800 0.9 - 1.7 μm 640 × 512 px 865 Hz 33 000 Hz 32 x 32
FAST S2k 0.9 - 1.7 μm 640 × 512 px 1 730 Hz 150 000 Hz @ 32 x 4

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